研究業績

2009年　研究発表

Shave-off深さ方向分析法によるはんだバンプ中スズの挙動解析

2009.5.16　p.232　第７０回日本分析化学討論会
藤井麻樹子、野島　雅、尾張真則、二瓶好正

Failure analysis of fine Cu patterning by shave-off profiling

2009.10.17　Abstract of the 16th international conference on secondary ion mass spectrometry, 0297
M. Nojima, M. Fujii, Y. Kakuhara, H. Tsuchiya, A. Kameyama, S. Yokogawa, M. Owari and Y. Nihei

Shave-off depth profiling of Sn in lead-free solder alloy

2009.10.17　Abstract of the 16th international conference on secondary ion mass spectrometry, 0240
M. Fujii, M. Nojima, M. Owari and Y. Nihei

Introduction

2009.10.23　SIMS17報告会 東京理科大学神楽坂校舎理窓会館第3会議室
野島　雅

Shave-off分析における二次イオン収率の検討

2009.10.27　p.62 1D33 第２９回表面科学学術講演会
野島　雅、池端由基、井本智博、藤井麻樹子、尾張真則、二瓶好正

Shave-off profiling as a nanoscale 3-D element imaging technique

Abstracts of 7th international symposium on atomic level characterizations
for new materials and devices '09, p.437
2009.12.10
M. Nojima, M. Fujii, M. Owari and Y. Nihei

Development of laser-assisted wide angle three-dimensional atom probe

Abstracts of 7th international symposium on atomic level characterizations
for new materials and devices '09, p.442
2009.12.10
N. Mayama, T. Iwata, S. Mikami, Y. Kajiwara, Y. Hanaoka, T. Kaito, T. Adachi,
M. Nojima, M. Taniguchi and M. Owari

A new specimen preparation method for three-dimensional atom probe

Abstracts of 7th international symposium on atomic level characterizations
for new materials and devices '09, p.687
2009.12.10
Y. Hanaoka, S. Mikami, N. Mayama, T. Iwata, Y. Kajiwara, T. Kaito, T. Adachi,
M. Nojima and M. Owari

Development of reconstruction method for highly precise shave-off depth profiling

Abstracts of 7th international symposium on atomic level characterizations
for new materials and devices '09, p.690
2009.12.10
M. Fujii, M. Nojima, M. Owari and Y. Nihei

絶対スケール深さ方向分析法を用いたナノデバイスの可視化技術

2009.12.18　p.1-13
表面技術協会表協エレクトロニクス部会・電気化学会情報機能材料研究会合同研究会招待講演
野島　雅

レーザー補助広角３次元アトムプローブ開発と実デバイスの３次元原子レベル解析(Ⅲ)

2010.2.24 早稲田大学西早稲田キャンパス55号館　p.40
マイクロビームアナリシス第141委員会・第139回研究会資料
尾張真則、間山憲仁、岩田達夫、野島　雅、谷口昌宏

ナノ空間を可視化するナノものさし

2010.3.16　秋葉原コンベンションホール
JST Innovation Bridge　東京理科大学　研究シーズ発表会
野島　雅

2009年　発表論文・記者発表

微細な空間測る｢ナノものさし｣

日刊工業新聞　第20552号 2009年2月2日

Multi lane shave-off profiling for build-up circuit

Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B:
Beam Interactions with Materials and Atoms (2009)
Volume 267，p 660-664
M. Fujii, Y. Ishizaki, M. Nojima, M. Owari and Y. Nihei

Shave-off vector profiling for TEM samples

界面科学研究センター　平成２０年度研究成果報告書
p 98-104
M. Nojima, M. Fujii, Y. Ishizaki, M. Owari and Y. Nihei

強制薄膜式リアクターによる銅フタロシアニンナノ粒子の表面処理とその分散性

色材協會誌 (2009)
Volume 82(9), p 381-386
本田大介, 小林加永子, 数本 優, 前川昌輝, 張 暁峰, 緒方嘉貴, 榎村眞一, 野島 雅, 酒井秀樹, 阿部正彦

なに！ナノものさし？

理大　科学フォーラム　第305号 2009年11月 p 48-52
野島　雅