研究業績

2006年　研究発表

Shave-off depth profiling: Depth profiling with an absolute depth scale

Abstract of the 9th international symposium on SIMS and related techniques based on ion-solid interactions

2006.07.20　p. 4
M. Nojima, T. Yamamoto, Y. Ishizaki, M. Owari and Y. Nihei

二次イオンマッピングにおける一次ビーム走査方式に関する検討

2006.09.01　東京コンファレンス2006講演要旨集、p.63
岩並　賢，石崎泰裕，木下恵介，野島　雅，尾張真則

知的創造基盤強化のための先端計測分析技術・機器開発重点化戦略　先端計測分析技術・機器開発事業シンポジウム

2006.09.05　「日本の未来を拓く先端計測分析技術の最前線」講演要旨集、p.3
二瓶好正

レーザー補助広角3次元アトムプローブの開発と実デバイスの3次元原子レベル解析　マイクロビームアナリシス第141委員会

2006.09.13　第125回研究会資料、p.61
尾張真則，谷口昌宏，野島　雅

Shave-off深さ方向分析における帯電補償法の開発

2006.09.20　日本分析化学会第55年会講演要旨集　p.3
石崎泰裕，山本剛史，尾張真則，野島　雅，二瓶好正

Shave-off深さ方向分析を用いた半導体封止材中銅原子の挙動解析

2006.09.20　日本分析化学会第55年会講演要旨集　p.4
山本剛史，石崎泰裕，尾張真則，野島　雅，二瓶好正

アトムプローブ分析における微小引き出し電極の最適化

2006.9.20　日本分析化学会第55年会講演要旨集　p.4
山下親典，千葉　豪，野島　雅，谷口昌宏，尾張真則

X線光電子分光／回折法によるバナジウム金属酸化物薄膜の構造解析に関する研究

2006.09.20　日本分析化学会第55年会講演要旨集　p.55
天野健太郎，木坂裕介，橋本明菜，野島　雅，二瓶好正，尾張真則

環境中PCBの起源解析に関する検討

2006.09.20　日本分析化学会第55年会要旨集　p.233
海老原孝，善養寺一也，後藤拓也，野島　雅，二瓶好正

都市大気環境中の超微小粒子の粒別分析法に関する研究

2006.09.20　日本分析化学会第55年会要旨集　p.234¥
酒井俊史，鈴木健一郎，野島　雅，二瓶好正

都市大気環境中の超微小粒子の粒別分析法に関する研究

2006.09.20 日本分析化学会第55年会要旨集　p.237
佐藤基和，鈴木健一郎，野島　雅，二瓶好正

凍結含水生物試料の三次元微小分析

2006.09.22　日本分析化学会第55年会講演要旨集　p.189
岩並　賢，木下恵介，野島　雅，尾張真則

Precise analysis on shave-off depth profiling

Abstract of the 16th international workshop on inelastic ion-surface collisions
2006.09.19　p. 67
M. Nojima, T. Yamamoto, Y. Ishizaki, M. Owari and Y. Nihei

Visualization on ion migration of Cu wiring into IC package by the shave-off depth profiling

Abstract of the 5th European workshop on secondary ion mass spectrometry
2006.09.26　p. 57
M. Nojima, T. Yamamoto, Y. Ishizaki, M. Owari and Y. Nihei

TDS、XPS、IRを用いた水素終端シリコン表面のオゾン酸化に伴う結合状態変化の解析

2006.11.08　第47回真空に関する連合講演会講演予稿集　p.138
藤原哲之，黒川　明，山本和弘，東　康史，一村信吾，二瓶好正

高速・時間分解XPEDを用いた表面構造ダイナミクスに関する研究

2006.11.06　第26回表面科学講演大会講演要旨集　p.15
木坂祐介，天野健太郎，橋本明奈，野島　雅，尾張真則，二瓶好正

実験室系における微分光電子ホログラフィー測定装置開発

2006.11.09　第26回表面科学講演大会講演要旨集　p.290
橋本明奈，木坂祐介，天野健太郎，野島　雅，尾張真則，二瓶好正

次世代ものづくりに向けた先端計測分析技術・機器開発

2006.12.02　2006年材料技術研究協会討論会講演要旨集　2SA-03
二瓶好正，野島　雅

Shave-off depth profiling for advancing nanotechnology

Program and abstracts of international open symposium on nanoscience and nanotechnology
2007. 1. 24　p. 3-4
M. Nojima and Y. Nihei

Structure and stacking fault of ultrathin Fe film grown on Ge(111) studied by LEED , XPS and XPD

Program and abstracts of international open symposium on nanoscience and nanotechnology
2007. 01. 24 　p. 5-6
W. G. Chu, A. Tsuruta, M. Owari, Y. Nihei

高速・時間分解X線光電子分光/回折による表面自己組織化のダイナミクスの解析　分子系の極微構造反応の計測とダイナミクス

2007.01.26　第７回公開シンポジウム要旨集　p.66
二瓶好正，尾張真則，野島　雅

2006年　発表論文

Shave-off depth profiling: Depth profiling with an absolute depth scale

Applied Surface Science, (2006)
Vol. 252, p. 7293-7296
M. Nojima, A. Maekawa, T. Yamamoto, B. Tomiyasu, T. Sakamoto, M. Owari and Y. Nihei

Characterization of individual complex particles in urban atmospheric environment

Applied Surface Science, (2006)
Vol. 252, p. 7022-7025
K. Suzuki, T. Takii, B. Tomiyasu and Y. Nihei

TOF-SIMS measurements of the exhaust particles emitted from gasoline and diesel engine vehicles

Applied Surface Science, (2006)
Vol. 252, p. 7026-7029
B. Tomiyasu, M. Owari and Y. Nihei

科学技術の紹介　−X線光電子回折法−

理大　科学フォーラム, 2006年8月　
第266号, p. 84
二瓶好正, 野島　雅

Shave-off depth profiling for nano-devices

Microchimica Acta, (2006)
Vol. 155, p. 219-223
M. Nojima, M. Toi, A. Maekawa, T. Yamamoto, T. Sakamoto, M. Owari and Y. Nihei

Handling of the ice protective film for potential use in the 3D microscale analysis of biological samples

Surface and interface analysis, (2006)
Volume 38, Issue 12-13, p 1658-1661
(同論文は Proceedings of 5th International Symposium on Atomic Level Characterizations for New Materials and Devices `05 p. 121-124 にも掲載)
T. Iwanami, YuJing Liu, M. Okazaki, M. Nojima, T. Sakamoto, M. Owari

Shave-off depth profiling of dendritic short-circuit growth caused by ion migration

Surface and interface analysis, (2006)
Volume 38, Issue 12-13, p 1662-1665
(同論文は Proceedings of 5th International Symposium on Atomic Level Characterizations for New Materials and Devices `05 p. 118-120 にも掲載)
T. Yamamoto, A. Maekawa, Y. Ishizaki, R. Tanaka, M. Owari, M. Nojima, Y. Nihei

Shave-off depth profiling of transparent conductive films and data analysis of the profile

Surface and interface analysis, (2006)
Volume 38, Issue 12-13, p 1734-1737
(同論文は Proceedings of 5th International Symposium on Atomic Level Characterizations for New Materials and Devices `05 p. 114-117 にも掲載)
K. Nakamura, Y. Ishikawa, K. Utsumi, H. Iigusa, R. Tanaka, Y. Ishizaki, T. Yamamoto, A. Maekawa, M. Owari, M. Nojima, Y. Nihei

Pin point depth profiling for unit device or several nano-devices

Surface and interface analysis, (2006)
(同論文は Proceedings of 5th International Symposium on Atomic Level Characterizations for New Materials and Devices `05 p. 110-113 にも掲載)
A. Maekawa, T. Yamamoto, Y. Ishizaki, R. Tanaka, M. Owari, M. Nojima, Y. Nihei

Improvement of a method for reconstructing the three-dimensional atom probe (3DAP) data

Surface and interface analysis, (2006)
Volume 38, Issue 12-13, p 1751-1755→ on line
(同論文は Proceedings of 5th International Symposium on Atomic Level Characterizations for New Materials and Devices `05 p. 125-128にも掲載)
T. Chiba, M. Nojima, M. Owari

Surface structural analysis of h-BN/Ni (111) by X-ray photoelectron diffraction excited by Al Ka and Cr La lines

Surface and interface analysis, (2006)
Volume 38, Issue 12-13, p 1756-1759→ on line
(同論文は Proceedings of 5th International Symposium on Atomic Level Characterizations for New Materials and Devices `05 p. 421-424にも掲載)
H. Mochizuki, K. Amano, M. Nojima, M. Owari, Y. Nihei

An application of TOF-SIMS mapping for biotissue
Proceedings of 5th International Symposium on Atomic Level

Characterizations for New Materials and Devices `05 p. 79-81
M. Okazaki, T. Iwanami, Y. Morita, M. Nojima, T. Sakamoto, M. Owari

Highly angular resolved photoelectron diffraction study on semiconductor surface phase transition

Proceedings of 5th International Symposium on Atomic Level
Characterizations for New Materials and Devices `05 p. 418-420
K. Amano, H. Mochizuki, M. Nojima, M. Owari, Y. Nihei

Clean-up of n-alkanes by means of supercritical CO2 extraction for TOF-SIMS sample preparation

Proceedings of 5th International Symposium on Atomic Level
Characterizations for New Materials and Devices `05 p. 86-90
T. Sakamoto, A. Yamamoto, Y. Nihei, M. Owari

Growth of Fe on Ge(111) at room temperature studied by X-ray photoelectron diffraction

Surface science, (2007)
Volume 601 p. 638-648
W. G. Chu, A. Tsuruta, M. Owari, Y. Nihei