研究業績

2004年　研究発表

マイクロ・ナノビームアナリシス公開シンポジウム「ナノバイオイメージングの融合と医用への展開」

2004.01.09　—安全な医薬・治療法へのアプローチ—、p. 22
二瓶好正

凍結含水生物試料の三次元微小分析(1)

2004.03.27　2004年(平成16年)春季第51回応用物理学関係連合講演会講演予稿集、第2分冊、p.764
劉　玉静，野島　雅，尾張真則

都市大気環境中の微小鉄粒子のキャラクタリゼーション

2004.05.15　2004年(平成16年)第65回分析化学討論会講演大会要旨集、p.33
鈴木健一郎，吉沢美由紀，後藤拓也，野島　雅，冨安文武乃進，二瓶好正

都市大気中PM2.5の起源解析に基づいたDEP汚染の解析

2004.05.15　2004年(平成16年)第65回分析化学討論会講演大会要旨集、p.33
瀧井貴紀，中野　智，吉沢美由紀，野島　雅，冨安文武乃進，二瓶好正

マイクロビームアナリシス法を用いた都市大気環境中の複合汚染微粒子に対する評価法の開発

2004.05.16　2004年(平成16年)第65回分析化学討論会講演大会要旨集、p.174
冨安文武乃進，鈴木健一郎，後藤拓也，尾張真則，二瓶好正

ナノビームSIMS法を用いたコンタクトホール断面の分析

2004.05.16　2004年(平成16年)第65回分析化学討論会講演大会要旨集、p.175
前川綾香，野島　雅，戸井雅之，冨安文武乃進，坂本哲夫，尾張真則，二瓶好正

ナノビームSIMS装置を用いた局所分析法に関する研究　日本学術振興会第１４１委員会マイクロビームアナリシス

2004.07.23　ＳＩＭＳ新技術ＷＧ平成１６年度第１回研究会資料、p.4-1
野島　雅，二瓶好正

Chemical Characterization of Surface and Interface of Solids by X-ray Photoelectron Diffraction and Nano-beam SIMS

2004.08　GRC-04
Y. Nihei and M. Nojima

X線光電子回折法によるh-BN/Ni(111)の表面構造解析

2004.09.02　2004年(平成16年)秋季第65回応用物理学会学術講演会講演予稿集、第2分冊、p.571
望月英宏，中村　仁，藤原宣博，鶴田明華，馬見新秀一，若松尚子，野島　雅，尾張真則，二瓶好正

イオンスパッタリングによる表面荒れの評価 -オゾン照射による低減効果の検証-

2004.09.03　2004年(平成16年)秋季第65回応用物理学会学術講演会講演予稿集、第2分冊、p.639
佐藤陽亮，鈴木　淳，野中秀彦，一村信吾，井上雅彦，野島　雅，二瓶好正

超臨界流体抽出法における環境汚染有機化合物の抽出特性の解析

2004.09.30　社団法人環境科学会2004年会一般講演・シンポジウムプログラム、p.16-17
山本あずさ，有田志帆，坂本哲夫，尾張真則，二瓶好正

自動車排ガス浄化触媒を起源とする環境微粒子のキャラクタリゼーション

2004.09.30　社団法人環境科学会2004年会一般講演・シンポジウムプログラム、p.18-19
津崎　希，冨安文武乃進，尾張真則，二瓶好正

市街地沿道大気中のPM2.5の起源解析

2004.09.30　社団法人環境科学会2004年会一般講演・シンポジウムプログラム、p.28-29
中野　智，平野雅子，瀧井貴紀，野島　雅，冨安文武乃進，二瓶好正

環境中PCBの起源解析　‐熱媒使用時における熱変性の検討‐

2004.09.30　社団法人環境科学会2004年会一般講演・シンポジウムプログラム、p.72-73
海老原孝，竹田朋恵，山本あずさ，善養寺一也，上野　聡，野島　雅，二瓶好正

The shave-off depth profiling by the nano-beam SIMS

2004.10.05　Abstracts of 3rd International Symposium on Practical Surface Analysis p.133
M. Toi, A. Maekawa, T. Yamamoto, B. Tomiyasu, T. Sakamoto, M. Owari, M. Nojima and Y. Nihei

Study of 3D micro-scale analysis of freeze-non-dried biotissue

2004.10.05　Abstracts of 3rd International Symposium on Practical Surface Analysis p.135
Y. Liu, M. Nojima, T. Sakamoto and M. Owari

Cr-La線とAl-Ka線励起光電子回折法によるh-BN/Ni(111)の表面構造解析

2004.10.09　第24回表面科学講演大会講演要旨集、p.111
望月英宏，中村　仁，藤原宣博，鶴田明華，馬見新秀一，若松尚子，野島　雅，尾張真則，二瓶好正

ナノビームSIMSを用いたshave-off深さ方向分析

2004.10.09　第24回表面科学講演大会講演要旨集、p.116
野島　雅，戸井雅之，前川綾香，山本剛史，冨安文武乃進，坂本哲夫，尾張真則，二瓶好正

2004年　発表論文

Nano-dimensional analysis for practical materials using the nano-beam SIMS apparatus

e-Journal of Surface Science and Nanotechnology, (2004)
Vol.2, p. 131-135→ on line
(同論文は Proceedings of 4th International Symposium on Atomic Level Characterizations for New Materials and Devices `03 p. 372-376 にも掲載)
M. Nojima, M. Toi, A. Maekawa, B. Tomiyasu, T. Sakamoto, M. Owari and Y. Nihei

Structural Analysis of Coal Fly Ash Particles by means of Focused-Ion-Beam Time-of-Flight Mass Spectrometry

e-Journal of Surface Science and Nanotechnology, (2004)
Vol.2, p. 45-51→ on line
(同論文は Proceedings of 4th International Symposium on Atomic Level Characterizations for New Materials and Devices `03 p. 377-383 にも掲載)
T. Sakamoto, K. Shibata, K. Takanashi, M. Owari and Y. Nihei

Evaluation of the nano-beam SIMS apparatus

Applied Surface Science, (2004)
Vol. 231-232, p. 930-935
M.Nojima, M.Toi, A.Maekawa, B.Tomiyasu, T.Sakamoto, M.Owari, Y.Nihei

TOF-SIMS measurement for the complex particulate matter in urban air environment

Applied Surface Science, (2004)
Vol. 231-232, p. 515-519
B. Tomiyasu, K. Suzuki, T.Gotoh, M. Owari and Y. Nihei

Highly angular resolved X-ray photoelectron diffraction measurements from a Ge(111) surface

Surface and interface analysis, (2004)
Vol. 36, p. 1497-1499
(同論文は Proceedings of 4th International Symposium on Atomic Level Characterizations for New Materials and Devices `03 p. 521-524 にも掲載)
N. Wakamatsu, K. Tamura, H. Ishii, M. Owari and Y. Nihei

Surface structural analysis of monolayer films composed of light elements by X-ray photoelectron diffraction

Surface and interface analysis, (2004)
Vol. 36, Issue 2, p. 1513-151
(同論文は Proceedings of 4th International Symposium on Atomic Level Characterizations for New Materials and Devices `03 p. 516-520 にも掲載)
H. Nakamura, N. Fujihara, M. Nojima, K. Tamura, H. Ishii, M. Owari, C. Oshima and Y. Nihei

Development of photoelectron spectro-holography apparatus

Surface and interface analysis, (2005)
Vol. 37, Issue 2, p. 211-216
(同論文は Proceedings of 4th International Symposium on Atomic Level Characterizations for New Materials and Devices `03 p. 489-496 にも掲載)
H. Ishii, S. Mamishin, K. Tamura, W. G. Chu, M. Owari, M. Doi, K. Tsukamoto, S. Takahashi, H. Iwai, K. Watanabe, H. Kobayashi, Y. Kita, M. Taguchi, R. Shimizu and Y. Nihei

Surface structural analysis of Zr-O/W(100) emitter at high temperature by X-ray photoelectron diffraction

Surface and interface analysis, (2005)
Vol. 37, Issue 2, p. 217-220
(同論文は Proceedings of 4th International Symposium on Atomic Level Characterizations for New Materials and Devices `03 p. 497-500 にも掲載)
K. Tamura, M. Amano, W. G. Chu, H. Ishii, M. Owari, T. Kawano, T. Nagatomi, Y. Takai, C. Oshima, R. Shimizu and Y. Nihei

Structural analysis of Co thin films grown on Ge(111) at room temperature by X-ray photoelectron diffraction

Surface and interface analysis, (2005)
Vol. 37, Issue 2, p. 230-234
(同論文は Proceedings of 4th International Symposium on Atomic Level Characterizations for New Materials and Devices `03 p. 525-530 にも掲載)
A. Tsuruta, W. G. Chu, K. Tamura, H. Ishii, M. Owari and Y. Nihei

Improvement of angular resolved electron analyzer for high performance X-ray photoelectron diffraction measurements

Surface and interface analysis, (2005)
Vol. 37, Issue 2, p. 225-229→ on line
(同論文は Proceedings of 4th International Symposium on Atomic Level Characterizations for New Materials and Devices `03 p. 511-515 にも掲載)
S. Mamishin, H. Mochizuki, H. Ishii, H. Kobayashi, H. Iwai, K. Watanabe, M. Taguchi, M. Owari and Y. Nihei

超臨界流体抽出法における環境汚染有機化合物の抽出特性の解析

分析化学, 2004年8月　
第53巻，第8号, p. 833
山本あずさ, 永井一聡, 坂本哲夫, 尾張真則, 二瓶好正