研究業績

2007年　研究発表

Shave-off深さ方向分析法における帯電補償法の開発とその評価

2007.5.19　第68回日本分析化学討論会　p.87
石崎泰裕、山本剛史、藤井麻樹子、野島　雅、尾張真則、二瓶好正

絶対スケール深さ方向分析法の高精密化に関する研究

2007.05.12　第4回東京理科大学特定研究助成金（平成18年度）研究成果報告会
野島　雅

Shave-off深さ方向分析法の可能性

2007.9.14　マイクロビームアナリシス141委員会　第129回研究会資料、p.12
野島　雅、尾張真則、二瓶好正

レーザー補助広角３次元アトムプローブの開発と実デバイスの３次元原子レベル解析(I)

2007.9.14　マイクロビームアナリシス141委員会　第129回研究会資料、p.36
尾張真則、間山憲仁、岩田達夫、伊藤聡子、金子哲也、三上素直、谷口昌宏、野島　雅

ナノ粒子暴露における健康影響評価のための単一細胞内分析

2007.9.20　日本分析化学会第56年会　p.63
鈴木健一郎、小松朋子、福原　渚、田畑真佐子、入江美代子、武田　健、二瓶好正

シミュレーション計算を用いたshave-off深さ方向分析法の高精度化

2007.9.21　日本分析化学会第56年会　p.74
藤井麻樹子、中村和人、石崎泰裕、野島　雅、尾張真則、二瓶好正

X線光電子分光/回折法による酸化チタン上に成長した酸化バナジウム薄膜の構造解析

2007.9.21　日本分析化学会第56年会　p.154
宮坂真弥、木坂祐介、橋本明菜、鈴木篤史、野島　雅、尾張真則、二瓶好正

大気環境汚染評価のためのナノ粒子解析

2007.9.21　日本分析化学会第56年会　p.184
鈴木健一郎、福原　渚、二瓶好正

Shave-off depth profiling for TEM samples

2007.10.30　Abstract of the 16th international conference on secondary ion mass spectrometry, p.169
M. Nojima, M. Fujii, Y. Ishizaki, M. Owari and Y. Nihei

Single cell analysis and nanoparticle exposure assay

2007.11.1　Abstract of the 16th international conference on secondary ion mass spectrometry, p.269
K. Suzuki, T. Komatsu, M. Tabata, M. Kubo-Irie, B. Tomiyasu, M. Sugamata, S. Oshio, K. Takeda and Y. Nihei

Charge neutralization using secondary electron shower for shave-off depth profiling

2007.11.1　Abstract of the 16th international conference on secondary ion mass spectrometry, p.330
Y. Ishizaki, T. Yamamoto, M. Fujii, M. Owari and Y. Nihei

Highly accurate shave-off depth profiling by simulation method

2007.11.1　Abstract of the 16th international conference on secondary ion mass spectrometry, p.331
M. Fujii, K. Nakamura, Y. Ishizaki, M. Nojima, M. Owari and Y. Nihei

Characterization of environmental nanoparticles

2007.11.1　Abstract of the 16th international conference on secondary ion mass spectrometry, p.358
N. Fukuhara, K. Suzuki, B. Tomiyasu and Y. Nihei

Study on dynamics of surface structure by rapid and time-resolved X-ray photoelectron diffraction

Abstracts of 6th international symposium on atomic level characterizations
fornew materials and devices '07, p.73
2007.10.30
Y. Kisaka, A. Hashimoto, A. Suzuki, S. Miyasaka, M. Nojima, M. Owari and Y. Nihei

Surface structual analysis of VOX/TiO2 by X-ray photoelectron diffraction

Abstracts of 6th international symposium on atomic level characterizations
fornew materials and devices '07, p.74
2007.10.30
S. Miyasaka, K. Amano, M. Nojima, M. Owari and Y. Nihei

Differential photoelectron holography of Cu(100) surface by using of laboratory level X-ray sources

Abstracts of 6th international symposium on atomic level characterizations
fornew materials and devices '07, p.75
2007.10.30
A. Hashimoto, A. Suzuki, Y. Kisaka, S. Miyasaka, M. Nojima, M. Owari and Y. Nihei

Holographic imaging of TiO2(110) strucure by differential photoelectron holography

Abstracts of 6th international symposium on atomic level characterizations
fornew materials and devices '07, p.76
2007.10.30
A. Suzuki, A. Hashimoto, M. Nojima, M. Owari and Y. Nihei

Evaluation of the instrument for three-dimensional atom probe (3DAP)

Abstracts of 6th international symposium on atomic level characterizations
fornew materials and devices '07, p.107
2007.10.30
T. Kaneko, S. Ito, C. Yamashita, N. Mayama, M. Nojima, M. Taniguchi and M. Owari

The stress of the needle specimen on the three-dimensional atom probe

Abstracts of 6th international symposium on atomic level characterizations
fornew materials and devices '07, p.104
2007.10.30
N. Mayama, C. Yamashita, T. Kaito, M. Nojima, M. Taniguchi and M. Owari

Development of prest-type sample stage in three-dimensional atom probe

Abstracts of 6th international symposium on atomic level characterizations
fornew materials and devices '07, p.105
2007.10.30
S. Ito, T. Kaneko, C. Yamashita, T. Kaito, T. Adachi, N. Mayama, M. Nojima, M. Taniguchi and M. Owari

Structure of ultrathin Fe films grown on Ge(111) at various temparatures studied by X-ray photoelectron diffraction

Abstracts of 6th international symposium on atomic level characterizations
fornew materials and devices '07, p.156
2007.10.30
W. G. Chu, A. Tsuruta, M. Owari and Y. Nihei

視点を変える　−絶対スケール深さ方向プロファイリング−
2007年度材料技術研究協会討論会　講演要旨集

2007.12.1　「ものづくり・先端計測化学の新展開：若手研究者からの提案」
野島　雅

第16回二次イオン質量分析国際会議 SIMS XVI

2008.2.26　マイクロビームアナリシス141委員会　第131回研究会資料、p.74
工藤正博、加藤信彦、青柳里果、遠藤一央、尾張真則、片岡祐治、加連明也、河野禎市郎、小松　学、高野明雄、坂本哲夫、関　節子、野島　雅、林　俊一、福島和彦、星　孝弘、三輪司郎、村瀬　篤、森下祐一、圦元尚義

2007年　発表論文

Precise analysis on shave-off depth profiling

Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B:
Beam Interactions with Materials and Atoms (2007)
Volume 258，p 250-252
M. Nojima, T. Yamamoto, Y. Ishizaki, M. Owari and Y. Nihei

電子線マイクロアナリシス法による都市大気環境中の超微粒子の粒別分析

分析化学 (2007)　Vol. 56, No. 8, p 631-637
酒井俊史，野島　雅，二瓶好正

Shave-off深さ方向分析法におけるメモリー効果の低減

分析化学 (2008)　Vol. 57, No. 1, p 67-69
野島　雅、藤井麻紀子、石崎泰裕、尾張真則、二瓶好正