研究業績

2005年　研究発表

金属クラスター錯体を用いた小型クラスターイオン源開発(5)　—金属クラスター錯体イオン銃によるスパッター—

2005.03.29　2005年(平成17年)春季第52回応用物理学関係連合講演会講演予稿集、第2分冊、p.848
溝田武志，近藤貢二，寺西義一，佐藤陽亮，野中秀彦，藤本俊幸，黒川　明，一村信吾，二瓶好正

Shave-off depth profiling for nano-devices

2005.5.24　Book of abstracts of international union of microbeam societies 2005, p.317
M. Nojima, M. Toi, A. Maekawa, Y. Yamamoto, T. Sakamoto, M. Owari and Y. Nihei

Shave-off深さ方向分析法のさまざまな試料への応用

2005.6.10　マイクロビームアナリシス141委員会　第120回研究会資料、p.58
前川綾香、戸井雅之、山本剛史、冨安文武乃進、坂本哲夫、尾張真則、野島　雅、二瓶好正

都市大気環境中ナノ粒子の捕集・分析と起源解析

2005.9.14　日本分析化学会第54年会　p.85
酒井俊史、中野　智、鈴木健一郎、瀧井貴紀、冨安文武乃進、野島　雅、二瓶好正

環境中起源解析のための熱媒使用PCBの熱変性に関する検討

2005.9.14　日本分析化学会第54年会　p.90
海老原孝、山本あずさ、善養寺一也、上野　聡、野島　雅、二瓶好正

Characterization of indevidual complex particles in urban atmospheric environment

2005.9.15　Abstract of the 15th international conference on secondary ion mass spectrometry, p.282
K. Suzuki, K. Yamada, M. Nojima, B. Tomiyasu and Y. Nihei

TOF-SIMS measurements of the exhaust particles emitted from gasoline and diesel engine vehicles

2005.9.15　Abstract of the 15th international conference on secondary ion mass spectrometry, p.283
B. Tomiyasu, M. Owari and Y. Nihei

Shave-off depth profiling by the nano-beam SIMS

2005.9.16　Abstract of the 15th international conference on secondary ion mass spectrometry, p.316
M. Nojima, A. Maekawa, Y. Yamamoto, B. Tomiyasu, T. Sakamoto, M. Owari and Y. Nihei

Shave-off深さ方向分析法を用いた3次元ナノスケール分析法の開発

2005.11.18　2005年(平成17年)第25回表面化学講演大会講演要旨集、p.102
前川綾香，山本剛史，石崎泰裕，田中里沙，坂本哲夫，尾張真則，野島　雅，二瓶好正

イオンスパッタリングの表面荒れに及ぼす表面酸化効果

2005.11.19　2005年(平成17年)第25回表面化学講演大会講演要旨集、p.167
佐藤陽亮，藤原哲之，野中秀彦，井上雅彦，一村信吾，二瓶好正

The history and development of photoelectron diffraction-holography

Abstracts of 5th international symposium on atomic level characterizations for new materials and devices '05, 2005.12.04 p.1
Y. Nihei

Dual beam system for the sector typed nano-beam SIMS

Abstracts of 5th international symposium on atomic level characterizations for new materials and devices '05, 2005.12.06 p.43
M. Nojima, A. Maekawa, T. Yamamoto, Y. Ishizaki, R. Tanaka, M. Owari and Y. Nihei

Analysis of transparent conductive films by nano-beam SIMS

Abstracts of 5th international symposium on atomic level characterizations for new materials and devices '05, 2005.12.06 p.44
K. Nakamura, Y. Ishikawa, K. Utsumi, H. Iigusa, R. Tanaka, Y. Ishizaki, T. Yamamoto, A. Maekawa, M. Nojima, M. Owari and Y. Nihei

Development of 3D analysis using shave-off depth profiling by FIB-SIMS

Abstracts of 5th international symposium on atomic level characterizations for new materials and devices '05, p.46
T. Iwanami, YuJing Liu, M. Okazaki, M. Nojima, T. Sakamoto and M. Owari

Shave-off depth profiling of dendritic short-circuit growth caused by ion migration

Abstracts of 5th international symposium on atomic level characterizations for new materials and devices '05, 2005.12.06 p.47
T. Yamamoto, A. Maekawa, Y. Ishizaki, R. Tanaka, M. Owari, M. Nojima and Y. Nihei

An application of TOF-SIMS mapping for biotissue

Abstracts of 5th international symposium on atomic level characterizations for new materials and devices '05, p.52
M. Okazaki, T. Iwanami, M. Nojima, T. Sakamoto and M. Owari

Highly angular resolved photoelectron diffraction study on semiconductor surface phase transition

Abstracts of 5th international symposium on atomic level characterizations for new materials and devices '05, 2005.12.06 p.77
K. Amano, H. Mochiduki, M. Nojima, M. Owari and Y. Nihei

Surface structural analysis of h-BN/Ni(111) by X-ray photoelectron diffraction exited by Al-ka line and Cr-ka line

Abstracts of 5th international symposium on atomic level characterizations for new materials and devices '05, 2005.12.08 p.184
H. Mochizuki, K. Amano, M. Nojima, M. Owari and Y. Nihei

Improvement of a method for reconstructing the three-dimensional atom probe (3DAP) data

Abstracts of 5th international symposium on atomic level characterizations for new materials and devices '05, 2005.12.08 p.193
T. Chiba, M. Nojima and M. Owari

凍結含水生物試料の三次元微小分析(2)

2006.03.23　2006年(平成18年)春季第53回応用物理学関係連合講演会講演予稿集、第2分冊、p.753
岩並　賢，劉　玉静，野島　雅，尾張真則

“Shave-off深さ分析法”による透明導電膜の分析

2006.03.23　2006年(平成18年)春季第53回応用物理学関係連合講演会講演予稿集、第2分冊、p.784
中村和人，内海健太郎，田中里沙，野島　雅，尾張真則，二瓶好正

2005年　発表論文

高濃度オゾンガスの局所リアルタイム濃度測定法の開発

真空, 2005年6月　
No.6, Vol.48, p. 378-381
佐藤陽亮, 西口哲也, 野中秀彦, 一村信吾, 二瓶好正

The shave-off depth profiling by the nano-beam SIMS

Journal of Surface Analysis Vol.12 No.2 (2005) p.170-173
M. Toi, A. Maekawa, T. Yamamoto, B. Tomiyasu, T. Sakamoto, M. Owari, M. Nojima and Y. Nihei

Study on 3D micro-scale analysis of freeze-non-dried biotissue

Journal of Surface Analysis Vol.12 No.2 (2005) p.200-203
Y. J. Liu, M. Nojima, T. Sakamoto and M. Owari

室内環境中PM2.5の電子線マイクロアナリシス法によるキャラクタリゼーション

環境科学会誌, 2005年9月　
第54巻，第9号, p. 897-906
佐藤基和, 鈴木健一郎, 瀧井貴紀, 中野　智, 野島　雅, 冨安文武乃進, 二瓶好正

自動車排ガス浄化触媒を起源とする大気環境希少微粒子の迅速検出法の開発

環境科学会誌, 2005年10月　
第54巻，第10号, p. 991-996
津崎　希, 大崎真由子, 冨安文武乃進, 尾張真則, 二瓶好正

X線光電子回折の現状と将来

応用物理, 2005年10月　
第74巻，第10号, p. 1341-1344
二瓶好正, 野島　雅

総論：観る, 計ることと知ること

学術月報, 2006年3月
第59巻，第736号, p. 4-6
二瓶好正