2013年 研究発表
Arガスクラスターイオンビームを用いたダイナミック二次イオン質量分析装置による有機材料の深さ方向分析
日本分析化学会第62年会
東大阪・近畿大学 2013年 9月 16日
鈴木 将人, 野島 雅, 藤井 麻樹子, 瀬木 利夫, 松尾 二郎
Development of organic depth profiling system with Ar-GCIB and IMS-4f
19th International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry
Korea・Juju 2013年 10月 3日
M. Nojima, M. Suzuki, M. Fujii, T. Seki and J. Matsuo
Mass analysis by Ar-GCIB-dynamic SIMS for organic materials
9th International Symposium on Atomic Level Characterizations for New Materials and Devices ’13
米国・ハワイ島 2013年 12月 3日
M. Suzuki, M. Nojima, M. Fujii, T. Seki and J. Matsuo
2013年 発表論文
表面官能基の異なるマイクロポリマー粒子を用いた複合ニッケルめっき
表面技術
64巻 7号 416-418頁
四反田功，岩崎功樹，星芳直，板垣昌幸，野島雅，北河秀一，藤井恵人