2003年 研究発表
Preparation and structural characterization of Co/Ge(111) ultrathin films
2003.03.18 マイクロビームアナリシス第141委員会 第111回研究会資料、p. 26
W. G. Chu, A. Tsuruta, K. Tamura，H. Ishii，M. Owari and Y. Nihei
光電子スペクトロホログラフィー装置の開発とそれを用いた表面・界面分析
2003.05.24 2003年(平成15年)第64回分析化学討論会講演大会要旨集、p.120
石井秀司, 田村圭司, W. G. Chu, 中村仁, 鶴田明華, 馬見新秀一, 若松尚子, 尾張真則, 二瓶好正
超臨界二酸化炭素抽出における抽出物の直接分析法の開発(I)
2003.05.24 2003年(平成15年)第64回分析化学討論会講演大会要旨集、p.133
坂本哲夫, 山本あずさ, 尾張真則, 二瓶好正
超臨界二酸化炭素抽出における抽出物の直接分析法の開発(II)
2003.05.24 2003年(平成15年)第64回分析化学討論会講演大会要旨集、p.134
山本あずさ, 坂本哲夫, 尾張真則, 二瓶好正
ナノビームSIMS装置の試作と評価
2003.05.24 2003年(平成15年)第64回分析化学討論会講演大会要旨集、p.137
野島 雅, 神田雄介, 戸井雅之, 冨安文武乃進, 坂本哲夫, 尾張真則, 二瓶好正
PM2.5環境微粒子の起源解析に関する研究
2003.05.25 2003年(平成15年)第64回分析化学討論会講演大会要旨集、p.31
中野 智, 平野雅子, 冨安文武乃進, 二瓶好正
環境微粒子による複合汚染評価法に関する研究
2003.05.25 2003年(平成15年)第64回分析化学討論会講演大会要旨集、p.32
鈴木健一郎, 冨安文武乃進, 二瓶好正
光電子スペクトロホログラフィー装置の測定迅速化
2003.08.31 2003年(平成15年)秋季 第64回応用物理学会学術講演会講演予稿集、No.2、p.584
馬見新秀一, 望月英宏, 石井秀司, 小林秀夫, 岩井秀夫, 渡邉勝巳, 田口雅美, 尾張真則, 二瓶好正
X線光電子回折法を用いた高温でのZr-O/W(100)の表面構造解析
2003.08.31 2003年(平成15年)秋季 第64回応用物理学会学術講演会講演予稿集、No.2、p.588
田村圭司, 中村仁, 天野幹也, W. G. Chu, 石井秀司, 尾張真則, 河野崇史, 永富隆清, 高井義造, 大島忠平, 志水隆一, 二瓶好正
X線光電子回折法を用いたCo/Ge(111)薄膜の構造解析
2003.09.01 2003年(平成15年)秋季 第64回応用物理学会学術講演会講演予稿集、No.2、p.593
鶴田明華，W. G. Chu，田村圭司，石井秀司，尾張真則，二瓶好正
Ge(111)表面の高角度分解能X線光電子回折測定
2003.09.01 2003年(平成15年)秋季 第64回応用物理学会学術講演会講演予稿集、No.2、p.596
若松尚子, 田村圭司, 石井秀司, 尾張真則, 二瓶好正
二瓶研究室紹介
2003.09.10 東京コンファレンス2003 講演要旨集、p.301
野島 雅, 中村 仁, 鈴木健一郎, 二瓶好正
自動車排ガス触媒を起源とする環境微粒子のキャラクタリゼーション
2003.09.11 社団法人環境科学会2003年会 一般講演・シンポジウム プログラム p.116
津崎 希, 大崎真由子, 金 朋央, 冨安文武乃進, 尾張真則, 二瓶好正
TOF-SIMS measurement for the complex particulate matter in urban air environment
2003.09.15 Abstracts of 14th international conference on secondary ion mass
spectrometry, p.43
B. Tomiyasu, K. Suzuki, T. Gotoh, M. Owari and Y. Nihei
Evaluation of the nano-beam SIMS apparatus
2003.09.19 Abstracts of 14th international conference on secondary ion mass
spectrometry, p.352
M. Nojima, M. Toi, A. Maekawa, T. Sakamoto, B. Tomiyasu, M. Owari and Y. Nihei
貴金属含有浮遊粒子状物質の分析に関する研究
2003.09.15 日本分析化学会第52年会 講演要旨集，p.111
大崎真由子，津崎 希，冨安文武乃進，二瓶好正，尾張真則
Study of the Co/Ge(111) ultrathin film structure by X-ray photoerectron fraction(XPED)
Abstracts of 4th international symposium on atomic level characterizations for new
materials and devices '03, 2003.10.06 p.40
A. Tsuruta, W. G. Chu, K. Tamura, H. Ishii, M. Owari and Y. Nihei
Structural Evolution of Co/Ge(111) Ultrathin Films Studied by X-ray Photoelectron Diffraction
Abstracts of 4th international symposium on atomic level characterizations for new
materials and devices '03, 2003.10.06 p.49
W. G. Chu, A. Tsuruta, K. Tamura，H. Ishii，M. Owari and Y. Nihei
Improvement of the angular resolved electron energy analyzer for high performance X-ray photoelectron diffraction measurements
Abstracts of 4th international symposium on atomic level characterizations for new
materials and devices '03, 2003.10.06 p.52
S. Mamishin, H. Mochizuki, H. Ishii, H. Kobayashi, H. Iwai, K. Watanabe, M. Taguchi, M. Owari and Y. Nihei
Structural Analysis of Coal Fly Ash Particles by means of Focused-Ion-Beam Time-of-Flight Mass Spectrometry
Abstracts of 4th international symposium on atomic level characterizations for new
materials and devices '03, 2003.10.06 p.62
T. Sakamoto, K. Shibata, K. Takanashi, M. Owari and Y. Nihei
Nano-dimensional analysis for practical materials using nano-beam SIMS apparatus
Abstracts of 4th international symposium on atomic level characterizations for new
materials and devices '03, 2003.10.06 p.68
M. Nojima, M. Toi, A. Maekawa, B. Tomiyasu, T. Sakamoto, M. Owari and Y. Nihei
Highly angular resolved X-ray photoelectron diffraction (XPED) measurement from a Ge(111) surface
Abstracts of 4th international symposium on atomic level characterizations for new
materials and devices '03, 2003.10.07 p.68
N. Wakamatsu, K. Tamura, H. Ishii, M. Owari and Y. Nihei
Analysis of Suspended Particulate Matter containing precious metals
Abstracts of 4th international symposium on atomic level characterizations for new
materials and devices '03, 2003.10.07 p.130
M. Osaki, N. Tsuzaki, B. Tomiyasu, M. Owari and Y. Nihei
Development of Photoelectron Spectro-holography apparatus
Abstracts of 4th international symposium on atomic level characterizations for new
materials and devices '03, 2003.10.07 p.134
H. Ishii, S. Mamishin, K. Tamura, W. G. Chu, M. Owari, M. Doi, K. Tsukamoto, S. Takahashi, H. Iwai, K. Watanabe, H. Kobayashi, Y. Kita, M. Taguchi, R.Shimizu and Y.Nihei
Surface Structural Analysis of Zr-O/W(100) emitter at High Temperature by X-ray Photoelectron Diffraction
Abstracts of 4th international symposium on atomic level characterizations for new
materials and devices '03, 2003.10.07 p.135
K. Tamura, M. Amano, W. G. Chu, H. Ishii, M. Owari, T. Kawano, T. Nagatomi, Y. Takai, C. Oshima, R. Shimizu and Y. Nihei
3D Atomic Structural Analysis of Surface Nano-structure By Photoelectron Diffraction and Holography
Abstracts of 4th international symposium on atomic level characterizations for new
materials and devices '03, 2003.10.09 p.161
Y. Nihei, H. Ishii, K. Tamura, W. G. Chu and M. Owari
ナノビームSIMS装置の評価
2003.11.26 2003年(平成15年)第23回表面科学講演大会要旨集、p.23
戸井雅之、野島 雅、神田雄介、冨安文武乃進、坂本哲夫、尾張真則、二瓶好正
ナノビームSIMS装置を用いた微小実材料試料の分析
2003.11.26 2003年(平成15年)第23回表面科学講演大会要旨集、p.24
野島 雅、戸井雅之、前川綾香、冨安文武乃進、坂本哲夫、尾張真則、二瓶好正
X線光電子回折法の開発と表面化学状態分析に関する研究
2003.11.27 2003年(平成15年)第23回表面科学講演大会要旨集、p.3
二瓶好正
光電子スペクトロホログラフィー装置の開発と応用
2003.11.28 2003年(平成15年)第23回表面科学講演大会講演要旨集、p.129
石井秀司、田村圭司、W. G. Chu、鶴田明華、馬見新秀一、若松尚子、堂井 真、塚本勝美、田口雅美、尾張真則、二瓶好正
ナノビームSIMS装置を用いた局所分析法に関する研究
2003.12.11 マイクロビームアナリシス141委員会 第114回研究会資料、p.15
野島 雅、神田雄介、戸井雅之、前川綾香、冨安文武乃進、坂本哲夫、尾張真則、二瓶好正
2003年 発表論文
Nano-scale SIMS analysis:the next generation in local analysis
Applied Surface Science, (2003)
Vol. 203-204, p. 194-197
M. Nojima, B. Tomiyasu, Y. Kanda, M. Owari and Y. Nihei
Analysis of surface composition internal structure of fly ash particles using an ion and electron multibeam microanalyzer
Applied Surface Science, (2003)
Vol. 203-204, p. 762-766
T. Sakamoto, K. Shibata, K. Takanashi, M. Owari and Y. Nihei
Elemental distribution analysis of positive electrode material for a nickel metal hydride battery
Applied Surface Science, (2003)
Vol. 203-204, p. 609-613
K. Takahashi, M. Yoshida, T. Sakamoto, N. Ono, Y. Tanaka, M. Owari and Y. Nihei
Nano-scale SIMS analysis:the next generation in local analysis
Applied Surface Science, (2003)
Vol. 203-204, p. 205-208
Y. Tanaka, M. Karashima, K. Takanashi, T. Sakamoto, M. Owari and Y. Nihei
TOF-SIMS measurements for toxic air pollutants absorbed on the surface of airborne particles
Applied Surface Science, (2003)
Vol. 203-204, p. 775-778
B. Tomiyasu, T. Hoshi, M. Owari and Y. Nihei
ナノビームSIMS装置の試作と評価
分析化学, 2003年3月
第52巻，第3号, p. 179-185
野島 雅, 神田雄介, 戸井雅之, 冨安文武乃進, 坂本哲夫, 尾張真則, 二瓶好正
単分子吸着したNi(111)表面のCr-La、Al-Ka光電子回折における光源依存性
分析化学, 2003年
第52巻，第10号, p. 859-863
中村 仁, 田村圭司, 石井秀司, 尾張真則, 大島忠平, 二瓶好正
大立体角電子エネルギー分析器の試作(II)
Journal of Vacuum Society Japan，(2004)
Vol.47, No.1, p. 2-6
中島 健，三浦大介，山村健太，二瓶好正，大島忠平
大気中におけるディーゼル排気すす微粒子と鉄道起源粒子との複合粒子の検索並びに同定
分析化学，2004年
第53巻，第1号，p. 7-12
鈴木健一郎，冨安文武乃進，二瓶好正
市街地沿道大気中PM2.5の粒別分析
分析化学，2004年
第53巻，第1号，p. 45-48
中野 智, 平野雅子, 冨安文武乃進, 二瓶好正