| 機器名 | 原子間力顕微鏡 | |
| 製造メーカー | SIIナノテクノロジー | |
| 型番 | SPI4000＋E-sweep | |
| 特徴 | 原子間力顕微鏡（AFM）は試料の三次元的な凹凸をナノオーダーで読み取る装置である。カンチレバー先端のプローブと試料表面に働く「力」を検出することで結果として三次元的な形状を得ることができる。また、大気中はもちろん、液中、真空中など幅広い環境下での測定が可能である | |
| 使用目的 | ナノスケール形態観察 | |
| 測定条件 | 形状 | マイカ等の基盤に固定 |
| 量／大きさ | ||
| 検出限界 | 分解能X,Y 1nm 分解能Z 1オングストローム | |
| その他の制限 | ||
| 備考 |  |
|
| 関連リンク | 機器 | |
| 研究 | 生体膜相分離構造のナノ直接観察 | |
| 設置場所 | ３号館１階実験室３ | |
